高分辨(bian)粒度儀主要用于測量納米材料的粒(li)徑和粒(li)度(du)分布，其應用廣泛。校(xiao)準方法：
1.確保儀器(qi)光(guang)學系(xi)統工作正(zheng)常。光(guang)學窗口是激光(guang)粒度分(fen)析儀器(qi)重(zhong)要的組(zu)成(cheng)部分(fen)，因此測試前應保證光(guang)學窗口內外表(biao)面光(guang)潔，無劃(hua)痕，清潔，無缺(que)損。光(guang)學基(ji)準譜平滑依次過渡，無明(ming)顯(xian)突起或凹(ao)陷。
2.外界條(tiao)件對儀器的(de)影響。外界條(tiao)件主要(yao)包括環境的(de)濕度，溫度和電源(yuan)電壓的(de)波動(dong)對儀器測試結果的(de)影響。
3.儀器測(ce)量(liang)重復性。將儀器預熱到規定時(shi)間(jian)，采用一(yi)種(zhong)國家(jia)標(biao)準物(wu)質進行多次測(ce)試，一(yi)般測(ce)試樣品6～10次，記(ji)錄每(mei)次D50，計算(suan)測(ce)量(liang)平均值(zhi)，標(biao)準偏差和相(xiang)對標(biao)準偏差。
4.儀(yi)器測(ce)(ce)(ce)量(liang)相對誤(wu)差(cha)。與(yu)(yu)儀(yi)器重復性測(ce)(ce)(ce)量(liang)不同(tong)的是，儀(yi)器相對誤(wu)差(cha)的測(ce)(ce)(ce)試要采用(yong)至少三(san)種(zhong)樣品以上的國(guo)家標準(zhun)物質(zhi)進行測(ce)(ce)(ce)試，每種(zhong)樣品獨立測(ce)(ce)(ce)量(liang)3次并分別(bie)求其平(ping)(ping)均值，獲得多個粒度(du)測(ce)(ce)(ce)量(liang)的平(ping)(ping)均值，分別(bie)計算儀(yi)器測(ce)(ce)(ce)量(liang)平(ping)(ping)均值與(yu)(yu)粒度(du)表(biao)標準(zhun)物質(zhi)標準(zhun)值間的相對誤(wu)差(cha)。
5.儀(yi)(yi)器(qi)分辨力。儀(yi)(yi)器(qi)分辨力的(de)(de)判斷(duan)是(shi)采用(yong)測試兩(liang)種樣(yang)(yang)品(pin)混合測試的(de)(de)方法，兩(liang)種粒(li)度(du)標準物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)移取量要根據其(qi)質(zhi)(zhi)量濃度(du)而定，確(que)保(bao)混合后(hou)的(de)(de)樣(yang)(yang)品(pin)中標準物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)質(zhi)(zhi)量濃度(du)比(bi)為1:2，將樣(yang)(yang)品(pin)混合均(jun)勻后(hou)加入儀(yi)(yi)器(qi)進(jin)行測量。應能(neng)夠從儀(yi)(yi)器(qi)測量粒(li)度(du)分布曲(qu)線圖中能(neng)夠觀察出2個(ge)獨立不相連(lian)的(de)(de)峰(feng)形，則認為雙峰(feng)已分。
